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Mobile Diagnostics and Erasure 4.0 リリースノート

主な新機能:

  • PHEN-4033 - iOS eSIM 消去
    • iOSファクトリーリセットによりeSIMの情報を消去。
  • PHEN-4037 - iOS UI セットアップの省略
    • iOS UIセットアップのステップを省くことで作業効率を大きく向上。
  • PHEN-4188, PHEN-4106 - FMiPチェック機能（有料）
    • iOSデバイスのFMiPロック状態を取得する機能
    • 注意：当機能の利用にはBlancco Management Console 5.2.0以上のバージョンが必須
  • PHEN-3937 - Webカメラのサポート
    • 接続したWebカメラを使ってワークフロー内で写真を撮影し、サーバーに保存する機能。
    • デバイス査定や、写真を採り入れたレポート作成のための利用を想定。
  • PHEN-4126 - DFUモードのiOSデバイスに対するサポート改良
    • 当バージョンではDFUモードになっているiOSデバイスの取り扱いを改良。
    • ただし"iOS Erasure"アルゴリズムの選択が前提。
  • MDM検出の改良
    • 当バージョンではMDM検出の機能を大きく改良。
  • PHEN-4027 - iOS構成部品のシリアル番号
    • 次に挙げる部品のシリアルナンバーをレポートする機能を追加。フロントカメラとフロントカメラモジュール（フロントの赤外線カメラと赤外線カメラモジュールも含む）、背面カメラとそのモジュール、背面望遠カメラとそのモジュール、パネル、カバーガラス、タッチIDセンサー。
  • PHEN-3992, SD-3632 - Exit Diagnostics Testing After Any Diagnostic.検査プロセスの途中終了に全テストが対応
    • 検査用のテスト項目をすべて「致命的な」テストと設定できるようにした。（失敗した際には途中終了し後続のテストを省略）
    • デバイスの処理工程のカスタマイズに有用な機能。
    • Diagnostics can be stopped after any test set as ”Fatal.”
    • This helps in the customization of device processing.
  • PHEN-4006 - Duplicate Workflow Elementsワークフロー要素のコピー機能
    • 編集効率アップのため、作成したワークフローの一部をコピーする機能。
    • Ability to copy portions of complex workflows for easier duplication and editing.
  • PHEN-4004 - Groupmove Objects in Workflow Editorワークフローエディタでのグループ移動機能
    • "Shift"キーを押すことで矩形を作成して複数のワークフロー要素を選択。複数の要素に対して移動等の操作を効率的に行う機能。
    • While holding ”Shift,” create a rectangle to select multiple workflow elements for ease of duplication and editing.
  • PHEN-3982, SD-3623 - iOS NFC Test.NFCテスト
    • iOSデバイス向けの新しいテスト。
    • New manual test for OS devices.
  • PHEN-4102 - Login Search Box Improvement.ログイン検索ボックスの改良
    • 大文字と小文字を区別せず、ユーザー名の途中から入力してもマッチする仕様とした。
    • Login search box is now case insensitive and doesn’t have to start from the beginning of the name.
  • PHEN-4047 - Android Auto-Brightness Adjustment.Androidの自動輝度設定
    • For Android 4.2 and above, brightness levels are automatically adjusted to a standard level before diagnostics begin.2以上の場合、検査処理開始時にデバイス側画面の輝度が標準的なレベルに自動で調整される。
  • PHEN-4046 - More Information for Issue Report.不具合レポートの詳細情報
    • 不具合レポート提出時により詳しい情報がBlanccoサポートへ伝わるよう、レポート生成時の入力情報を追加。
    • Issue report now captures more information making it easier to submit issue reports to Blancco support.
  • PHEN-4038 - Customized QR Code to Printable Label.ラベル印刷用QRコードのカスタマイズ機能
    • QRコードのカスタマイズができるように新たなラベルレイアウトを追加。
    • New label layout allowing the user to create a customized printable QR code.
  • PHEN-4023, PHEN-4011 - Lock BMDE Terminal Screen.BMDE端末（ホスト）のスクリーンロック
    • 認証情報を知っている人のみがホストマシンを操作できるようにするための画面ロック機能。
    • Screen can be locked to prevent unauthorized user from accessing terminal without credentials.
  • PHEN-4129 - Make IMEI and Other Device ID Information Copyable.IMEIとその他のデバイスID情報のコピー
    • IMEIをはじめとしたデバイスIDをコピーしてWebブラウザにペーストすることが可能。
    • Users may now copy IMEI and other asset information for pasting to browser.
  • PHEN-4001, PHEN-3999 - Allow Simple Login to BMDE from Management Console(MC)のユーザー情報を使ったログイン
    • MCに定義されているユーザーの認証情報を使ってBMDEにログインさせる機能を追加。
    • BMDE login can be done with MC login credentials.
  • PHEN-4090 - Automatically Associate AD User Name Against Report Uploaded on BMCMCにアップロードされたレポートへのユーザー名自動設定
    • MCへのログインに使用したユーザー名がレポートに自動的にセットされる機能。
    • When using MC login credentials, username will be populated on the report.
  • PHEN-3951 - iPod Touch Gen 7 Support.第7世代iPod Touchのサポート
  • PHEN-3998, PHEN-3617 - Added Support for Zebra Series 400PrintersZT410 and ZT420.Zebraシリーズ400プリンターのサポート（ZT410とZT420）
  • PHEN-3660 - Polish Language Support Added to BMDE.ポーランド語のサポート

修正Fixes:

  • PHEN-4154 - Data Columns Cannot Be Added to IMEI Database.IMEIデータベースへのカラム追加制限
    • 66個を超えるカラムを追加できるように仕様を変更。
    • Users can now add more that 66 new columns.
  • PHEN-4087, BTS-28224 - iPod Gen 5 Erasure Failure.第5世代iPodの消去失敗
    • iPod A1421に影響した問題を修正。
    • Fixed an issue affecting the erasure of iPod A1421.
  • PHEN-4039, BTS-23203 - Blancco Diagnostics App Stuck on ”Cleaning”.検査用アプリが”Cleaning”と表示して停止
    • iOSデバイスの古いファームウェアバージョンに起因して起こる問題の原因を特定し修正。
    • Fixed issue causing this to happen with iOS devices running older firmware versions
  • PHEN-4007, BTS-26622 - Slots Overlapping.スロットが重なって表示される
    • スロットが重なる原因を特定し修正。
    • Fixed an issue causing slots to overlap.
  • PHEN-3945 - Unstable Workflow When Erasing Android.Android消去時ワークフローの安定性の問題
    • ワークフロー内でAndroidを処理する際の処理を変更。
    • It is now easier to perform Android erasure within workflow.
  • PHEN-3280 - Temporarily Frozen UI.UIが一時的に固まってしまう
    • 再現しないように修正を実施。
    • UI is no longer freezing.
  • PHEN-3022 - Samsung Tablet Erasure Application Installation Failure.Samsung製タブレットへの消去アプリケーションインストールの失敗
    • Fixed issue causing the installation of the erasure application fail on Samsung GT-N8013 tablets.N8013タブレットへのインストール失敗の原因を特定し修正。
  • SD-3736, BTS-29084 - LCD Back-Light Test -No Pass/Fail Button Bug.LCDバックライトテストでの成功と失敗ボタンが表示されない
    • タッチスクリーンテストのサイズをユーザーが変更した場合に発生していた。修正済み。
    • Fixes an issue which happened when the user would change the size of the touch screen test.
  • SD-3705 - Battery Stress Test Failure.
    • Fixes an issue causing the battery stress test to fail on Moto and Lenovo devices.

Known issues:

  • バッテリーストレステストの失敗
    • Moto製とLenovo製のデバイスで発生原因を特定し、修正。

既知の不具合:

  • 検査アプリケーションの既知の不具合
    • Android Q サポート
      • 当バージョンはAndroid OSバージョン10(Q)を未だサポートしていない。（アプリケーションがスムーズに動作しない現象を確認済み）
    Known Issues in Diagnostics Application.
    • Android Q support:
      • Version 3.5.2 does not support Android devices with OS version 10 (Q). It has been observed that some devices do not behave smoothly.
    • SD-3741: NFC test iOS: App does not seem to wait for the NFC test to finish. The NFC search popup stays on screen until NFC tested,and on the background next tests are run.
      • Workaround: Run diagnostics in Timer mode OFF or increase test timeouts to maximum time for this particular test.
      iOSのNFCテスト: NFCテスト完了を正しく検知できない問題があり、NFC検索ポップアップが画面に現れたままの状態で次のテストが始まってしまう。この問題への対応策は、タイマーモードをオフにして検査を実行するか、NFCテストの時間を最大に設定すること。
    • iOSデバイスのホームキーテストがまれに実行されない問題。タイマーが動作しなくなっているかまたは早く進み過ぎてテストが行われないのが原因。
      • 容易に発生しない問題と考えている。
      Rare issue observed on home screen test failed to run on iOS devices -> the timer got off track, the timer runs too fast for the following tests.
      • Did not reproduce easily.
    • SD-3706: iOS 12.4 only, Light test is not getting performed if auto-brightness setting of device is OFF.デバイスの自動輝度設定がオフになっている場合にライトテストが実行されない問題（iOSバージョン12.4のみで発生する）
      • デフォルトで自動輝度設定はオンになっているため発生頻度は低い。
      • この問題に気づいた場合は自動輝度設定をオンにしてください。
      • 次の場所で設定変更が可能です。「設定」⇒「一般」⇒「アクセシビリティ」⇒「ディスプレイ調整」⇒「明るさの自動調整」
      • By default this setting is ON and won’t have any issues. But,
      • In case such issue is observed then user needs to make sure, auto-brightness setting is ON.
      • To get there, select "General" in the Settings app, then "Accessibility." On the next page, tap on "Display Accommodations," and you'll see the toggle for "Auto-Brightness.”.