主な新機能:

  • PHEN-4033 - iOS eSIM 消去
    • iOSファクトリーリセットによりeSIMの情報を消去。
  • PHEN-4037 - iOS UI セットアップの省略
    • iOS UIセットアップのステップを省くことで作業効率を大きく向上。
  • PHEN-4188, PHEN-4106 - FMiPチェック機能（有料）
    • iOSデバイスのFMiPロック状態を取得する機能
    • 注意：当機能の利用にはBlancco Management Console 5.2.0以上のバージョンが必須
  • PHEN-3937 - Webカメラのサポート
    • 接続したWebカメラを使ってワークフロー内で写真を撮影し、サーバーに保存する機能。
    • デバイス査定や、写真を採り入れたレポート作成のための利用を想定。
  • PHEN-4126 - DFUモードのiOSデバイスに対するサポート改良
    • 当バージョンではDFUモードになっているiOSデバイスの取り扱いを改良。
    • ただし"iOS Erasure"アルゴリズムの選択が前提。
  • MDM検出の改良
    • 当バージョンではMDM検出の機能を大きく改良。
  • PHEN-4027 - iOS構成部品のシリアル番号
    • 次に挙げる部品のシリアルナンバーをレポートする機能を追加。フロントカメラとフロントカメラモジュール（フロントの赤外線カメラと赤外線カメラモジュールも含む）、背面カメラとそのモジュール、背面望遠カメラとそのモジュール、パネル、カバーガラス、タッチIDセンサー。
  • PHEN-3992, SD-3632 - 検査プロセスの途中終了に全テストが対応
    • 検査用のテスト項目をすべて「致命的な」テストと設定できるようにした。（失敗した際には途中終了し後続のテストを省略）
    • デバイスの処理工程のカスタマイズに有用な機能。
  • PHEN-4006 - ワークフロー要素のコピー機能
    • 編集効率アップのため、作成したワークフローの一部をコピーする機能。
  • PHEN-4004 - ワークフローエディタでのグループ移動機能
    • "Shift"キーを押すことで矩形を作成して複数のワークフロー要素を選択。複数の要素に対して移動等の操作を効率的に行う機能。
  • PHEN-3982, SD-3623 - iOS NFCテスト
    • iOSデバイス向けの新しいテスト。
  • PHEN-4102 - ログイン検索ボックスの改良
    • 大文字と小文字を区別せず、ユーザー名の途中から入力してもマッチする仕様とした。
  • PHEN-4047 - Androidの自動輝度設定
    • Android 4.2以上の場合、検査処理開始時にデバイス側画面の輝度が標準的なレベルに自動で調整される。
  • PHEN-4046 - 不具合レポートの詳細情報
    • 不具合レポート提出時により詳しい情報がBlanccoサポートへ伝わるよう、レポート生成時の入力情報を追加。
  • PHEN-4038 - ラベル印刷用QRコードのカスタマイズ機能
    • QRコードのカスタマイズができるように新たなラベルレイアウトを追加。
  • PHEN-4023, PHEN-4011 - BMDE端末（ホスト）のスクリーンロック
    • 認証情報を知っている人のみがホストマシンを操作できるようにするための画面ロック機能。
  • PHEN-4129 - IMEIとその他のデバイスID情報のコピー
    • IMEIをはじめとしたデバイスIDをコピーしてWebブラウザにペーストすることが可能。
  • PHEN-4001, PHEN-3999 - Management Console(MC)のユーザー情報を使ったログイン
    • MCに定義されているユーザーの認証情報を使ってBMDEにログインさせる機能を追加。
  • PHEN-4090 - MCにアップロードされたレポートへのユーザー名自動設定
    • MCへのログインに使用したユーザー名がレポートに自動的にセットされる機能。
  • PHEN-3951 - 第7世代iPod Touchのサポート
  • PHEN-3998, PHEN-3617 - Zebraシリーズ400プリンターのサポート（ZT410とZT420）
  • PHEN-3660 - ポーランド語のサポート

修正:

  • PHEN-4154 - IMEIデータベースへのカラム追加制限
    • 66個を超えるカラムを追加できるように仕様を変更。
  • PHEN-4087, BTS-28224 - 第5世代iPodの消去失敗
    • iPod A1421に影響した問題を修正。
  • PHEN-4039, BTS-23203 - 検査用アプリが”Cleaning”と表示して停止
    • iOSデバイスの古いファームウェアバージョンに起因して起こる問題の原因を特定し修正。
  • PHEN-4007, BTS-26622 - スロットが重なって表示される
    • スロットが重なる原因を特定し修正。
  • PHEN-3945 - Android消去時ワークフローの安定性の問題
    • ワークフロー内でAndroidを処理する際の処理を変更。
  • PHEN-3280 - UIが一時的に固まってしまう
    • 再現しないように修正を実施。
  • PHEN-3022 -Samsung製タブレットへの消去アプリケーションインストールの失敗
    • Samsung GT-N8013タブレットへのインストール失敗の原因を特定し修正。
  • SD-3736, BTS-29084 - LCDバックライトテストでの成功と失敗ボタンが表示されない
    • タッチスクリーンテストのサイズをユーザーが変更した場合に発生していた。修正済み。
  • SD-3705 -バッテリーストレステストの失敗
    • Moto製とLenovo製のデバイスで発生原因を特定し、修正。

既知の不具合:

  • 検査アプリケーションの既知の不具合
    • Android Q サポート
      • 当バージョンはAndroid OSバージョン10(Q)を未だサポートしていない。（アプリケーションがスムーズに動作しない現象を確認済み）
    • SD-3741: iOSのNFCテスト: NFCテスト完了を正しく検知できない問題があり、NFC検索ポップアップが画面に現れたままの状態で次のテストが始まってしまう。この問題への対応策は、タイマーモードをオフにして検査を実行するか、NFCテストの時間を最大に設定すること。
    • iOSデバイスのホームキーテストがまれに実行されない問題。タイマーが動作しなくなっているかまたは早く進み過ぎてテストが行われないのが原因。
      • 容易に発生しない問題と考えている。
    • SD-3706: デバイスの自動輝度設定がオフになっている場合にライトテストが実行されない問題（iOSバージョン12.4のみで発生する）
      • デフォルトで自動輝度設定はオンになっているため発生頻度は低い。
      • この問題に気づいた場合は自動輝度設定をオンにしてください。
      • 次の場所で設定変更が可能です。「設定」⇒「一般」⇒「アクセシビリティ」⇒「ディスプレイ調整」⇒「明るさの自動調整」